Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Techniques for Structural Characterization

Omschrijving

Er is geen omschrijving gevonden.

€ 152,05
Gebonden
Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland
Schrijver
Mario Birkholz
Titel
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Uitgever
Wiley-VCH Verlag GmbH
Jaar
2005
Taal
Engels
Pagina's
378
Gewicht
839 gr
EAN
9783527310524
Afmetingen
241 x 171 x 19 mm
Bindwijze
Gebonden

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!


Rubrieken

Boekstra