Focused Beam Methods: Measuring Microwave Materials in Free Space

Measuring Microwave Materials in Free Space

Omschrijving

Er is geen omschrijving gevonden.

Gratis verzending vanaf
€ 19,95 binnen Nederland
Schrijver
Schultz, John W.
Titel
Focused Beam Methods: Measuring Microwave Materials in Free Space
Uitgever
Createspace Independent Publishing Platform
Jaar
2012
Taal
Engels
Pagina's
142
EAN
9781480092853
Bindwijze
Paperback

U ontvangt bij ons altijd de laatste druk!


Rubrieken

Boekstra